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【技术交流】LED芯片寿命试验过程全解析“友e家娱乐手机APP下载”

作者:友e家娱乐手机APP下载 时间:2020-12-22 00:04
本文摘要:LED具有体积小、功耗低、寿命长、环保等优点。在实际生产和研究过程中,必须通过寿命试验来拓展LED芯片的可靠性水平,并通过质量控制体系来提高LED芯片的可靠性水平,以保证LED芯片的质量。1.第二章发光二极管作为一种电子元件,已经出现了40多年,但在很长一段时间里,它只用于具有闪光效率和亮度的指示灯。 直到上世纪末,才突破技术瓶颈,生产出高亮度、高效率的led和蓝光led,并将其应用范围扩大到信号灯、城市夜景工程、全彩屏幕等。从而获得被用作光源的可能性。

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LED具有体积小、功耗低、寿命长、环保等优点。在实际生产和研究过程中,必须通过寿命试验来拓展LED芯片的可靠性水平,并通过质量控制体系来提高LED芯片的可靠性水平,以保证LED芯片的质量。1.第二章发光二极管作为一种电子元件,已经出现了40多年,但在很长一段时间里,它只用于具有闪光效率和亮度的指示灯。

直到上世纪末,才突破技术瓶颈,生产出高亮度、高效率的led和蓝光led,并将其应用范围扩大到信号灯、城市夜景工程、全彩屏幕等。从而获得被用作光源的可能性。随着发光二极管应用范围的不断扩大,提高发光二极管的可靠性变得更加重要。

LED具有可靠性高、使用寿命长的优点。在实际生产和研究过程中,必须通过寿命试验来拓展LED芯片的可靠性水平,并通过质量控制体系来提高LED芯片的可靠性水平,以保证LED芯片的质量。

因此,在建设纯彩色发光二极管产业化的同时,开发了发光二极管芯片寿命测试的条件、方法、手段和装置,以提高寿命测试的科学性和结果的准确性。2.寿命试验条件的确认在规定的工作和环境条件下,电子产品的工作试验称为寿命试验和耐久性试验。随着LED生产技术的提高,产品的寿命和可靠性都有了很大的提高。

LED的理论寿命是10万小时。如果仍然使用长期额定变形下的常规寿命试验,很难对产品的寿命和可靠性做出更客观的价格。我们测试的主要目的是通过寿命测试来控制LED芯片光输入的波动,进而推断其寿命。根据LED器件的特点,经过对比测试和统计分析,最终规定了0.3 ~ 0.3 mm2以下芯片的寿命测试条件:[1]。

样本随机抽取,芯片数量8 ~ 10个,制作5单灯;[2]。工作电流为30mA[3]。环境条件为室温(255);[4]。测试周期为96小时、1000小时和5000小时。

30mA的工作电流是额定值的1.5倍,是增加电气变形的寿命试验。虽然结果不能代表实际生活情况,但有相当的参考价值;寿命测试以外延片生产批次为母样,随机选取一个外延片中的8~10个芯片,将PCB制作成5单灯器件,开发成96小时寿命测试,结果代表该生产批次的所有外延片。

一般来说,1000小时以上的试验期称为常年寿命试验。在生产工艺稳定的情况下,1000小时的寿命试验降低数倍,5000小时的寿命试验可以降低数倍。3.工艺及注意事项对于LED芯片寿命测试样品,芯片,俗称裸晶,也可以在PCB之后使用。

采用裸晶形式,外部变形较小,更容易扇动,因此光衰减小,使用寿命长,与实际应用情况差距小。虽然可以通过增加电流来调节,但不如使用单灯装置直观。寿命测试以单灯器件的形式进行,导致器件光凋亡简化的因素比较简单,可能包括芯片因素和PCB因素。

在测试过程中,采取了各种措施来降低PCB因素的影响,并对可能影响寿命测试结果准确性的细节进行了逐一改进,从而保证了寿命测试结果的客观性和准确性。3.1样本抽取法的寿命试验不能使用抽样试验的*估计法,存在一定的风险。首先,抽样评估的前提是产品质量不具有一定程度的均匀分布和稳定性。

产品质量均匀分布,抽样才有代表性;其次,由于实际产品质量没有离散性,我们采用分区随机抽样的方法来提高寿命试验结果的准确性。通过查询相关数据并进行大量对比测试,我们明确提出了一种更科学的样品提取方法:根据芯片在外延片上的取向将芯片分为四个区域。划分见图1,每个区域2 ~ 3个芯片,共8 ~ 10个芯片。

针对不同器件的寿命测试结果差别很大甚至相反的情况,我们规定了增加西安寿命测试的方法,即每个区域4 ~ 6个芯片,共16个。第三,一般来说,样本越多,风险越小,寿命试验结果越准确。但是样本越多,就会造成人力、物力、时间的浪费,测试成本上升。

如何处理风险与成本的关系仍然是我们研究的内容。我们的目标是通过采用科学的抽样方法,将风险增加到低于相同测试成本下的风险。


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